dfbf

Fyra kvadrant PIN enkelrörsserie

Fyra kvadrant PIN enkelrörsserie

Modell: GT111 / GT112 / GD3250Y / GD3249Y / GD3244Y / GD3245Y / GD32413Y / GD32414Y / GD32415Y

Kort beskrivning:

Enheten består av fyra kisel-PIN-fotodioder med samma enhet, som arbetar under tillstånd av omvänd bias, spektralresponsen sträcker sig från synligt ljus till nära-infrarött, toppsvarsvåglängden är 980nm och responsen vid 1064nm kan nå upp till 0,5A /W.


  • f614effe
  • 6dac49b1
  • 46bbb79b
  • 374a78c3

Teknisk parameter

FUNKTIONER

ANSÖKAN

Produkttaggar

Fotoelektriska egenskaper (Ta22±3)

Modell

GT111

GT112

GD3250Y

GD3249Y

GD3244Y

GD3245Y

GD32413Y

GD32414Y

GD32415Y

Paketformulär

TILL-8

TILL-8

TILL-8

TILL-20

TILL-31-7

TILL-31-7

MBCY026-P6

TILL-8

MBCY026-W7W

Ljuskänslig ytstorlek (mm)

Φ4

Φ6

Φ8

Φ10

Φ10

Φ16

Φ14

Φ5.3

Φ11.3

Spektralt svarsområde (nm)

400~1100

400~1100

400~1100

400~1100

400~1100

400~1100

400~1100

400~1150

400~1150

Toppsvarsvåglängd (nm)

980

980

980

980

980

980

980

980

980

Responsivitet λ=1064nm(A/W)

0,3

0,3

0,3

0,3

0,4

0,4

0,4

0,5

0,5

Mörkström (nA)

5 (VR=40V)

7 (VR=40V)

10 (VR=40V)

15 (VR=40V)

20 (VR=135V)

50(VR=135V)

40(VR=135V)

4,8 (VR=140V)

≤20(VR=180V)

Stigtid In = 1064nm RL = 50Ω (ns)

15 (VR=40V)

20 (VR=40V)

25 (VR=40V)

30(VR=40V)

20 (VR=135V)

30(VR=135V)

25 (VR=135V)

15 (VR=140V)

20 (VR=180V)

Junction kapacitans f=1MHz(pF)

5 (VR=10V)

7 (VR=10V)

10 (VR=10V)

15 (VR=10V)

10 (VR=135V)

10 (VR=135V)

16 (VR=135V)

4,2 (VR=140V)

10 (VR=180V)

Genombrottsspänning (V)

100

100

100

100

300

300

300

≥300

≥250

Låg mörkström

Hög lyhördhet

Bra kvadrantkonsistens

Liten död fläck

Lasersiktning, vägledningsspårning och utforskningsenhet

Lasermikropositionering, förskjutningsövervakning och andra precisionsmätningssystem


  • Tidigare:
  • Nästa:

  • Låg mörkström

    Hög lyhördhet

    Bra kvadrantkonsistens

    Liten död fläck

    Lasersiktning, vägledningsspårning och utforskningsenhet

    Lasermikropositionering, förskjutningsövervakning och andra precisionsmätningssystem